聚酰亚胺(PI)膜碳化过程中结构和性能变化研究

查看全文 作　　者：[1]亓淑英;[1]迟伟东;[1]沈曾民

机构地区：[1]北京化工大学,北京100029

出　　处：《材料科学与工程学报》索引2007年第25卷第1期,共4页

摘　　要：研究了聚酰亚胺薄膜在不同碳化温度下,材料内部结构转变规律及其对材料性能的影响。研究结果表明,在温度区间500℃-650℃之间材料质量损失明显,达到28%;600℃材料开始向晶体结构转变,700℃逐渐衍生出类石墨结构;700℃左右材料力学和电学性能出现转折点,这正与材料结构的转变相呼应。 关键词：PI薄膜碳化结构性能

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