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Device-orientation Effects on Multiple-cell Upset Response

查看全文 作　　者：Zhang Zhangang Liu Jie Hou Mingdong Sun Youmei Su Hong Duan Jinglai Mo Dan Yao Huijun Luo Jie Geng Chao Gu Song 高影响力作者 出　　处：《IMP & HIRFL Annual Report》索引2011年第1期,共1页高影响力期刊 关 键 词：多细胞 设备 空间环境 微电子器件 重离子辐照 集成电路 实验测试 单事件
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