Scanning electron microscopy imaging of single-walled carbon nanotubes on substrates

查看全文 作　　者：Dongqi [1]Li;Jin [1]Zhang;Yujun [2,3]He;Yan [4]Qin;Yang [1]Wei;Peng [1]Liu;Lina [1]Zhang;Jiaping [1,5]Wang;Qunqing [1]Li;Shoushan [1,5]Fan;Kaili [1]Jiang

机构地区：[1]State Key Laboratory o fLow-Dimensional Quantum Physics, Department of Physics and Tsinghua-Fo~conn Nanotechnology Research Center, Tsinghua University, Beijing 100084, China;[2]Sunwoda Electronic Co. Ltd., Shenzhen 518108, China;[3]Graduate School at Shenzhen, Tsinghua University, Shenzhen 518055, China;[4]Carl Zeiss Shanghai Co., Ltd. Beijing Office, No. 1221, North Area, Building B, 768 Creative Industry Park, A-5 Xueyuan Rd., Haidian Dist., Beijing 100083, China;[5]Collaborative Innovation Center of Quantum Matter, Beijing 100084, China

出　　处：《Nano Research》索引2017年第10卷第5期,共15页

摘　　要：因为它的高效率和高空间的分辨率,扫描电子显微镜学(SEM ) 在描绘 nanomaterials 在 nanoscience 和纳米技术起一个不可缺少的作用。如果围单人赛的碳 nanotubes (SWCNT ) 被放在底层上,最近的进步显示从不同传导性或 bandgaps 产生的对比能在 SEM 图象被观察。在这研究,我们在不同底层上把 SWCNT 用作模型系统执行 nanomaterials 的 SEM 成像。实质的 SEM 观察在高、低的加速电压被进行,导致材料和表面费用上的成像参数和底层的效果的全面理解信号,以及 SEM 成像。SEM 成像的这幅统一图画不仅在许多底层上推进我们 SWCNT 的 SEM 图象的理解而且为为在 nanoelectronics 和 nanophotonics 使用的另外的重要 nanomaterials 开发新成像配方提供一个基础。 关键词：围单人赛的碳 nanotube 扫描电子显微镜学成像出现收费

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