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15篇 您的检索式：作者名="Drevillon B"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Adhesion improvement of plasmadeposited silica thin films on stainless steel substrate studied by x-ray photoemission spectroscopy and in situ infrared ellipsometry显示文摘	Bertrand N Drevillon B	1998	Journal of vacuum science and technology1998，16，1：	1
	2	Quantitative study of C-H bonding in polymerlike amorphous carbon films using in situ infrared ellipsometry显示文摘	HEITZ T DREVILLON B GODET C	1998	Phys Revs B1998，58，13：	1
	3	A reflectance anisotropy spectrometer for real-time measurements显示文摘	Drevillon B	1992	Rev Sci Instrum1992，63，1：	1
	4	In Situ Spectroellipsometry Study of the Crosslinking of Polypropylene by an Argon Plasma 显示文摘	Vallon S Drevillon B Poncin - Epaillard F	1997	Applied Surface Science1997，108，：	1
	5	Broadband division-of-amplitude polarimeter based on uncoated prisms显示文摘	Compain E Drevillon B	1998	Appl Opt1998，37，25：	1
	6	Plasma treatment of polycarbonate for improved adhesion 显示文摘	HOFRICHTER A BULKIN P DREVILLON B	2002	Journal of Vacuum Science & Technology A2002，20，1：	1
	7	显示文摘	Heitz T Drevillon B Godet C	1998	Phys Rev B1998，58，13：	1
	8	Adhesion improvement of plasmadeposited silica thin films on stainless steel substrate studied by X-ray photoemission spectroscopy and in situ infrared ellipsometry显示文摘	Bertrand N Drevillon B	1998	Journal of Vacuum Science and Technology1998，16，1：	1
	9	Spectroscopic mueller polarimeter based on liquid crystal devices 显示文摘	E Garcia-Caurel A D Martino B Drevillon	2004	Thin Solid Films2004，，1：	1
	10	Muellerpolarimetric imaging system with liquid crystals 显示文摘	Laude-Boulesteix B De M A Drevillon B	2004	AppliedOptics2004，43，14：	1
	11	Spectroscopic mueller polarimeter based on liquid crystal devices显示文摘	Garcia-Caurel E Martino A D Drevillon B	2004	Thin Solid Films2004，，：	1
	12	Real time control of the deposition of optical coatings by multiwavelength ellipsometry显示文摘	Kidemo M Drevillon B	1998	Surface and Coatings Technology1998，，13：	1
	13	Fast polarization modulated el- lipsometer using a microprocessor system for digital Fourier analysis 显示文摘	Drevillon B Perrin J Marbot R	1982	Review of Scientific Instruments1982，53，7：	1
	14	In situ study of the thermal decomposition of B2H6 by combining spectroscopic ellipsometry and Kelvin probe measurements显示文摘	Cabarrocas F R Kumar S Drevillon B	1989	J Appl Phys1989，66，7：	1
	15	Mueller polarimetric imaging system with liquid crystals显示文摘	LAUDE-BOULESTEIX B de MARTINO A DREVILLON B	2004	Applied Optics2004，43，14：	1

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